GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫（IEC 60068-2-1：2007，IDT）低溫試驗箱
GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗（IEC 60068-2-78：2001，IDT）恒溫恒濕試驗箱
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）（IEC 60068-2-30：2005，IDT）高低溫交變濕熱試驗箱
GB/T 2423.5-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導則：沖擊（idt IEC 60068-2-27:1987）冷熱沖擊箱
GB/T 2423.6-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eb和導則：碰撞（idt IEC 60068-2-29:1987）
GB/T 2423.7-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ec和導則：傾跌與翻倒（主要用于設備型樣品）（idt IEC 60068-2-31:1982）
GB/T 2423.8-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ed：自由跌落（idt IEC 60068-2-32:1990）跌落試驗機
GB/T 2423.10-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc：振動（正弦）（IEC 60068-2-6:1995，IDT）振動試驗機
GB/T 2423.15-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga和導則：穩(wěn)態(tài)加速度（IEC 60068-2-7:1986，IDT）
GB/T 2423.16-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導則：長霉（IEC 60068-2-10:2005，IDT）
GB/T 2423.17-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧（IEC 60068-2-11:1981，IDT）鹽霧機
GB/T 2423.18-2000 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）（idt IEC 60068-2-52:1996）鹽霧耐腐蝕試驗箱
GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓試驗方法（IEC 60068-2-13:1983，IDT）
GB/T 2423.22-2002 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化（IEC 60068-2-14:1984，IDT）
GB/T 2423.23-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 試驗Q：密封
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